【中红外ATR】
测量原理：
干涉后的红外光以全反射的角度(例如45度)入射ATR晶体，红外光在晶体表面形成一个衰减式的红外波，被紧密覆盖在晶体表面的样品吸收后，检测器采集反射部分的红外光的强度，这种测量方式称为衰减全反射测量，即ATR测量。
中红外ATR通常选择的晶体材料有金刚石(Diamond)、硒化锌(ZnSe)、锗晶体(Ge)、硅晶体(Si)等，因此测量范围因材料选择而有所不同。
ATR满足不同的应用场景，荧飒光学可以提供单次测量或多次测量附件。
分析对象：
固体表面、粉末、薄膜、聚合物、沥青、胶状物、油漆等透射难以测量的样品、非破坏测量。
适合机型：
荧飒光学
公司地址：上海市青浦区华志路1388号6号楼
联系电话：021-59130260
电子邮箱： info@insaoptics.com
荧飒光学官方公众号
在线客服
您好，请点击在线客服进行在线沟通！
中文
English
